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电子元器件检验技术实践与标准解析
内容简介
本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上，结合我国电子元器件产业现状，从电子元器件检验和生产行业出发，围绕电子元器件检验主题，详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系，以及不同类别电子元器件的检验技术等。
作者简介
王晓晗，博士（后），高级工程师，中国电子产品可靠性与环境试验研究所副总工程师，军用电子元器件标准化委员会副秘书长。组织支持国家科技重大专项: “XX器件评价与检测技术”、“XX抗辐照机理和评估技术”、“XX抗核辐射试验技术”，军用电子元器件共性技术、国防科技基础、总装技术基础、科技部“航空电子系统故障诊断与健康预测”重大国际合作等项目，获国家国防科技三等奖一项。
章节目录
封面
书名页
内容简介
版权页
前言
目录
第一篇 元器件基础知识
第1章 电子元器件的基本概念及分类
1.1 电子元器件概述
1.1.1 狭义的电子元器件
1.1.2 通义的电子元器件
1.1.3 广义的电子元器件
1.2 元器件的主要类别及功能
1.2.1 单片集成电路
1.2.2 半导体分立器件
1.2.3 混合集成电路
1.2.4 真空电子器件
1.2.5 微波电路及组件
1.2.6 通用元件
1.2.7 光电子器件
1.2.8 机电元件及组件
1.2.9 特种元器件
1.2.10 电子元器件封装外壳
本章参考文献
第2章 检验及电子元器件检验
2.1 检验的基本概念
2.1.1 检验的分类
2.1.2 检验的一般步骤和内容
2.1.3 检验的作用
2.1.4 质量概念的发展与检验
2.1.5 可靠性与检验
2.2 电子元器件检验概述
2.2.1 鉴定检验
2.2.2 质量一致性检验
2.2.3 筛选检验
2.2.4 过程控制检验
2.2.5 检验项目
本章参考文献
第3章 元器件检验的标准体系概述
3.1 我国的标准体系
3.1.1 标准主分类
3.1.2 标准的性质
3.1.3 标准基础分类
3.1.4 标准层次
3.1.5 标准领域
3.2 电子元器件标准体系
3.2.1 电子元器件国家标准
3.2.2 电子元器件行业标准
3.2.3 电子元器件军用标准
3.3 电子元器件检验标准体系
本章参考文献
第二篇 元器件测试技术
第4章 集成电路测试技术
4.1 器件类型及参数
4.1.1 器件类型
4.1.2 器件参数
4.2 对标准的理解
4.2.1 集成电路测试方法标准
4.2.2 标准的技术内容
4.2.3 复杂电路测试标准
4.2.4 集成电路测试标准的发展方向
4.3 参数的测试方法
4.3.1 数字集成电路的参数测试方法
4.3.2 模拟集成电路的参数测试方法
4.4 工程应用经验
4.4.1 ATE测试平台
4.4.2 集成电路测试支撑技术
4.4.3 集成电路测试案例
4.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第5章 分立器件测试技术
5.1 器件类型及参数
5.1.1 二极管
5.1.2 晶体管
5.1.3 晶闸管
5.1.4 场效应管
5.2 对标准的理解
5.2.1 解读GJB 128A—97
5.2.2 解读测试相关标准
5.2.3 测试一般注意事项
5.3 参数测试方法
5.3.1 二极管参数测试方法
5.3.2 晶体管参数测试方法
5.3.3 晶闸管参数测试方法
5.3.4 场效应管参数测试方法
5.4 工程应用经验
5.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第6章 混合集成电路测试技术
6.1 器件类型及参数
6.1.1 DC/DC变换器
6.1.2 EMI电源滤波器
6.1.3 I/F、V/F变换器
6.1.4 脉宽调制放大器
6.2 对标准的理解
6.2.1 GJB 2438A—2002《混合集成电路通用规范》
6.2.2 GB/T 15138—1994《膜集成电路和混合集成电路外形尺寸》
6.2.3 GJB 2440A—2006《混合集成电路外壳通用规范》
6.2.4 SJ 20646—97《混合集成电路DC/DC变换器测试方法》
6.3 参数的测试方法
6.3.1 DC/DC变换器参数测试方法
6.3.2 EMI滤波器参数测试方法
6.3.3 V/F、I/F变换器参数测试方法
6.3.4 脉宽调制放大器参数测试方法
6.4 工程应用经验
6.4.1 DC/DC变换器
6.4.2 V/F变换器
6.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第7章 真空电子器件测试技术
7.1 真空电子器件的类型及参数
7.1.1 真空电子器件的分类
7.1.2 行波管
7.1.3 速调管
7.1.4 微波功率模块（MPM）
7.1.5 磁控管
7.1.6 正交场放大管
7.1.7 光电倍增管
7.1.8 天线开关管
7.1.9 显像管
7.1.10 真空光源
7.2 对标准的理解
7.3 参数的测试方法
7.3.1 通用测试方法
7.3.2 微波管主要参数测试方法
7.3.3 光电管及光源主要参数测试方法
7.4 工程应用经验
7.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第8章 微波电路及组件测试技术
8.1 器件类型及参数
8.1.1 微波混合集成电路与组件
8.1.2 微波通用元件
8.1.3 微波毫米波器件与电路
8.1.4 微波毫米波磁性元器件
8.2 对标准的理解
8.2.1 对SJ 20645—97的理解
8.2.2 对GB 1462—92的理解
8.2.3 对GJB 1648A—2011的理解
8.3 参数测试方法
8.3.1 晶体振荡器测试方法
8.3.2 微波混频器测试方法
8.3.3 微波功率放大器参数测试方法
8.4 工程应用经验
8.5 测试技术的发展趋势
本章参考文献
第9章 通用元件测试技术
9.1 几种通用元件
9.1.1 电阻器
9.1.2 电容器
9.1.3 电感器和变压器
9.2 测试参数定义
9.2.1 电阻器
9.2.2 电容器
9.2.3 电感器和变压器
9.3 对标准的理解
9.3.1 电阻器
9.3.2 电容器
9.3.3 电感器和变压器
9.4 参数测试方法
9.4.1 电阻器
9.4.2 电容器
9.4.3 电感器和变压器
9.5 工程应用经验
9.5.1 电阻器
9.5.2 电容器
9.6 测试技术发展趋势
本章参考文献
第10章 光电子器件测试技术
10.1 器件类型及参数
10.1.1 红外光电及焦平面探测器组件
10.1.2 发光二极管（LED）
10.1.3 光电耦合器
10.1.4 激光器
10.1.5 微光像增强器
10.1.6 光纤光缆
10.1.7 图像传感器
10.1.8 液晶显示器
10.2 对标准的理解
10.2.1 红外光电及焦平面组件测试和试验标准讨论
10.2.2 平板显示器件测试和试验标准讨论
10.2.3 对光电器件标准的理解
10.3 参数测试方法
10.3.1 红外焦平面阵列探测器件特性参数测试方法
10.3.2 液晶显示器特性参数测试方法
10.3.3 光发射器件参数的测试方法
10.3.4 光敏器件参数的测试方法
10.3.5 光电耦合器件参数的测试方法
10.4 工程应用经验
10.4.1 光电子器件测试工程应用经验
10.4.2 红外焦平面阵列测试与评价工程应用经验
10.5 光电子器件测试技术发展趋势
本章参考文献
第11章 机电元件及其组件测试技术
11.1 几种机电元件及其组件介绍
11.1.1 继电器
11.1.2 连接器
11.1.3 电线电缆
11.2 测试参数定义
11.2.1 继电器
11.2.2 连接器
11.2.3 电线电缆
11.3 对标准的理解
11.3.1 继电器
11.3.2 连接器
11.3.3 电线电缆
11.4 参数测试方法
11.4.1 继电器
11.4.2 连接器
11.4.3 电线电缆
11.5 工程应用经验
11.5.1 继电器
11.5.2 连接器
11.5.3 电线电缆
11.6 机电元件测试技术发展趋势
本章参考文献
第12章 特种元件测试技术
12.1 几种特种元件介绍
12.1.1 传感器
12.1.2 石英晶体谐振器
12.1.3 声表面波器件
12.2 主要电性能参数
12.2.1 传感器
12.2.2 石英晶体谐振器
12.2.3 声表面波器件
12.3 对标准的理解
12.3.1 传感器
12.3.2 石英晶体谐振器
12.3.3 声表面波器件
12.4 参数测试方法
12.4.1 传感器
12.4.2 石英晶体谐振器
12.4.3 声表面波器件
12.5 工程应用经验
12.5.1 传感器
12.5.2 石英晶体谐振器
12.5.3 声表面波器件
12.6 测试技术发展趋势
本章参考文献
第13章 外壳与电子功能材料测试技术
13.1 外壳等电子功能材料介绍
13.1.1 外壳
13.1.2 电子功能材料
13.2 测试参数定义
13.2.1 外壳测试参数
13.2.2 半导体材料
13.2.3 磁性材料参数
13.2.4 结构陶瓷材料参数
13.3 对标准的理解
13.3.1 外壳
13.3.2 半导体材料
13.3.3 磁性材料
13.3.4 结构陶瓷材料
13.4 参数测试方法
13.4.1 外壳测试方法
13.4.2 半导体材料测试方法
13.4.3 磁性材料测试方法
13.4.4 结构陶瓷材料测试方法
13.5 工程应用经验
13.6 测试技术的发展趋势
13.7 前沿的新型功能材料
本章参考文献
反侵权盗版声明
封底
电子元器件检验技术（测试部分）是2018年由电子工业出版社出版,作者王晓晗。
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