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电路测试工程师知识宝典：系统介绍集成电路测试基础知识和实践经验。
内容简介
集成电路测试是集成电路产业的重要环节，但是集成电路测试工程师因为缺乏学习资料，往往需要花费一到二年的时间才能积累足够的知识和经验，无法满足日益增长的人才需求。本书系统的介绍了集成电路测试工程师所涉及到的基础知识和实践经验。全书共分为10章。内容上，包含实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的实际影响，自动测试设备（ATE）的V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性内容的简单介绍。以往这些内容分散到不同的教材中，既相对分散，又缺乏系统性，本书以集成电路测试为主线，从ATE的应用角度，结合笔者多年来的研发和应用实践，将所需要的基础知识串联起来，尤其是针对测试行业的新人培养，加入了V/I源的基本原理和实际应用限制的讲解，并提供了仿真模型，使读者能够快速全面的了解集成电路测试工程师所需要的各项基础知识。书后附录还有一些实际测试模拟电路和数字电路的案例供读者参考。
章节目录
封面
版权信息
内容简介
序言
前言
第1章 关于集成电路测试
1.1 集成电路测试相关书籍和标准推荐
1.2 准备工作
1.3 一些小约定
1.4 英文缩写
第2章 从理想电路到实际电路
2.1 实际的导线
2.1.1 开尔文连接
2.1.2 屏蔽与驱动保护
2.1.3 磁环与磁珠
2.2 实际的电阻
2.2.1 电阻的作用
2.2.2 实际电阻的分压电路
2.3 实际的电容
2.3.1 电容的参数以及影响
2.3.2 实际电路中的电容
2.3.3 电压驱动电阻电容（RC）电路的一阶系统响应
2.4 实际的电感
2.4.1 电感的作用
2.4.2 实际电路中的电感
2.5 驱动与负载
2.5.1 驱动能力的限制
2.5.2 负载效应的影响
2.6 继电器和电子开关
第3章 电源与测量的基本电路
3.1 V/I源的基本结构
3.1.1 整体结构
3.1.2 电压输出模式
3.1.3 电流输出模式
3.1.4 波形发生器模式
3.1.5 V/I源的测量
3.2 V/I源的限制
3.2.1 输出稳定时间
3.2.2 反馈响应时间
3.2.3 高度模型化的V/I源
3.3 ATE的测量电路
3.3.1 电压测量
3.3.2 时间测量
3.3.3 扫描测量
3.4 数字测试源
3.4.1 电源供电电路
3.4.2 直流参数测量电路
3.4.3 驱动输出电路
3.4.4 比较输入电路
3.4.5 有源负载电路
第4章 测试程序设计要求
4.1 测试程序的特殊要求
4.2 程序设计的风格
4.3 程序设计的防误方法
第5章 误差与校准
5.1 基于误差的计算
5.1.1 基于已有的元件参数计算电路误差
5.1.2 基于规格允许的误差选择元件参数
5.2 线性校准的原理与方法
5.3 非线性校准与数据拟合
第6章 模拟信号调理基础
6.1 电压放大与衰减电路
6.1.1 电压放大电路
6.1.2 电压衰减电路
6.2 电压与电流转换电路
6.2.1 电流电压转换
6.2.2 电压电流转换
6.2.3 测试三极管的VBE
6.3 比较电路
6.3.1 单限比较器
6.3.2 窗口比较器
6.3.3 滞回比较器
6.4 特性提取电路
6.4.1 峰值提取
6.4.2 滤波电路
6.4.3 采样保持
6.4.4 边沿检测
6.4.5 脉宽检测
6.5 信号修调电路
6.5.1 钳位限幅
6.5.2 电平调整
6.5.3 隔离转换
6.5.4 分频电路
6.6 相位补偿基础
6.6.1 极点和零点
6.6.2 相位补偿理论基础
6.6.3 运放环路增益精确测量的两种方法
6.6.4 相位补偿的灵活运用
第7章 数字信号处理基础
7.1 移动平均滤波
7.2 卷积与FIR滤波器
7.2.1 卷积
7.2.2 FIR滤波器
7.3 傅里叶变换
7.3.1 离散傅里叶变换和窗函数滤波器的频谱
7.3.2 窗函数解决频谱泄漏的应用
7.3.3 快速傅里叶变换
7.3.4 THD和SNR等频域参数的计算
7.3.5 FFT计算的注意事项
第8章 测试方法基础
8.1 开短路（Open-Short）测试
8.2 接触（Contact）测试/开尔文（Kelvin）测试
8.3 LDO的测试
8.3.1 参考电压
8.3.2 线性调整率
8.3.3 负载调整率
8.3.4 输出电流（Iadj）测试
8.3.5 最小负载电流
8.3.6 纹波抑制比
8.3.7 输出短路电流
8.4 运算放大器测试
8.4.1 运放的测试电路
8.4.2 运放的VIO参数测试
8.4.3 运放的CMRR参数测试
8.4.4 运放的输入偏置电流测试
8.4.5 运放的其他参数
8.5 数字通信测试
8.5.1 数字芯片的文档
8.5.2 数字IO口的DC参数
8.5.3 数字IO口的AC参数
8.5.4 I2C通信的存储器
8.5.5 SPI通信的存储器
第9章 测试数据分析
9.1 基本概念
9.2 相关性验证（CORR）
9.3 重复性与再现性（GRR）
9.3.1 不同配置之间的GRR计算
9.3.2 仪器验收的GRR计算
9.4 测试能力研究（TCS）
9.5 多Sites并行测试的数据验证
9.6 测试数据统计分析图
9.7 多Sites并行测试的效率以及UPH计算
第10章 信号和电源完整性简介
10.1 方波的傅里叶级数
10.2 使用一阶RC电路仿真上升沿时间与带宽的关系
10.3 时域反射计（TDR）与线长校准
10.4 测试电路的地
第11章 实训平台介绍
11.1 QT-8100测试系统功能概述
11.1.1 QT-8100测试系统可测试的器件类型
11.1.2 QT-8100测试系统适用的测试过程
11.1.3 QT-8100测试系统的基础配置
11.2 QT-8100测试系统硬件系统组成
11.2.1 QT-8100测试系统的整体结构
11.2.2 QT-8100测试系统的硬件系统框图
11.2.3 QT-8100测试系统的主要模块和板卡
11.2.4 QT-8100测试系统的机架结构组成
11.2.5 QT-8100测试系统的通道资源简介
11.2.6 QT-8100测试系统的背板简介
11.2.7 QT-8100测试系统的培训板简介
11.3 QT-8100测试系统软件系统组成
第12章 测试方案开发简介
12.1 测试程序开发流程
12.2 测试程序的执行过程
12.3 测试函数的完整结构
12.4 测试方案开发流程
第13章 LDO的测试
13.1 Datasheet与Testplan的分析
13.1.1 Datasheet里的总体性能描述
13.1.2 Datasheet里的电气特性
13.1.3 Testplan里的测试规格
13.1.4 Testplan里的测试方法
13.2 测试方案的设计与调试
13.2.1 Open-Short测试
13.2.2 线性调整率
13.2.3 负载调整率
13.2.4 参考电压
13.2.5 调整脚电流
13.2.6 最小负载电流
13.2.7 最大负载电流
13.2.8 电源纹波抑制比
第14章 集成运算放大器的测试
14.1 集成运算放大器的基本特性
14.1.1 特征
14.1.2 工作模式
14.2 Datasheet的分析
14.2.1 重要特性
14.2.2 引脚定义与封装
14.2.3 功能原理框图
14.2.4 电气特性
14.3 集成运算放大器的测试方法
14.3.1 运放的VIO（VOS）参数测试
14.3.2 运放的CMRR参数测试
14.3.3 运放的IB（IIB）参数测试
14.3.4 运放的VOH和VOL参数测试
14.3.5 运放的IQ（ICC）参数测试
14.3.6 运放的PSRR参数测试
14.3.7 运放的开环电压增益AVO（AVOL）参数测试
14.3.8 运放的压摆率（SR）参数测试
14.4 Testplan的分析
14.5 测试方案的设计
14.5.1 连续性（Continuity）
14.5.2 静态电流（IQ）
14.5.3 输出高电平（VOH），输出低电平（VOL）
14.5.4 输入失调电压（VOS）
14.5.5 输入偏置电流（IB），输入失调电流（IOS）
14.5.6 电源抑制比（PSRR）
14.5.7 共模抑制比（CMRR）
14.5.8 开环放大倍数（AVOL）
14.5.9 压摆率（SR）
14.5.10 ATE的资源分配
14.6 测试函数的编写
14.6.1 测试工程的新建
14.6.2 测试程序的PIN MAP设置
14.6.3 测试程序的Datasheet与Bin设置
14.6.4 测试函数的编写
14.7 测试程序的调试
14.7.1 测试项目的启动
14.7.2 测试项目的调试
14.7.3 测试结果
第15章 I2C接口的EEPROM存储器测试
15.1 Datasheet与Testplan的分析
15.1.1 Datasheet里的总体性能描述
15.1.2 Datasheet里的存储空间介绍
15.1.3 Datasheet里的物理连接介绍
15.1.4 Datasheet里的I2C总线介绍
15.1.5 Datasheet里的直流参数含义
15.1.6 Testplan的分析
15.2 测试方案的设计与调试
15.2.1 测试电路的设计
15.2.2 测试工程的新建
15.2.3 测试程序的PIN MAP设置
15.2.4 测试程序的Datasheet与Bin设置
15.2.5 连续性测试
15.2.6 IIL/IIH/ISB的测试
15.2.7 Func_AA的测试
附录 采样定理以及ADC的量化噪声
参考文献
封底
集成电路测试基础是2022年由电子工业出版社出版,作者佛山市联动科技股份有限公司。
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