内容简介
本书针对已掌握了常规射线检测技术的人员，提供系统性的工业应用数字射线检测技术基础知识，包括射线检测技术的物理基础，数字射线检测的设备、基本理论、基本技术，等价性问题，技术标准介绍等大量实际技术处理内容，并设计了实验项目和复习参考题。
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- 数字射线检测技术
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- 前言
- 目录
- 第1章 射线检测技术的物理基础
- 1.1 射线概念
- 1.1.1 射线分类
- 1.1.2 X射线
- 1.1.3 γ射线
- 1.2 射线与物质的相互作用
- 1.2.1 光电效应
- 1.2.2 康普顿效应
- 1.2.3 电子对效应
- 1.2.4 瑞利散射
- 1.3 射线衰减规律
- 1.3.1 基本概念
- 1.3.2 单色窄束射线的衰减规律
- 1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律
- 1.4 射线检测技术的基本原理
- 复习参考题
- 第2章 辐射探测器与其他器件
- 2.1 辐射探测器概述
- 2.1.1 辐射探测器分类
- 2.1.2 辐射探测器主要性能
- 2.1.3 辐射探测器基本性能
- 2.2 直接数字化射线检测技术的辐射探测器
- 2.2.1 概述
- 2.2.2 非晶硅辐射探测器
- 2.2.3 非晶硒辐射探测器
- 2.2.4 CCD或CMOS辐射探测器
- 2.2.5 分立辐射探测器（DDA）的响应校正和坏像素修正
- 2.2.6 分立辐射探测器（DDA）的性能特点
- 2.3 间接数字化射线检测技术的辐射探测器
- 2.3.1 成像板（IP板）
- 2.3.2 图像增强器
- 2.3.3 IP板系统性能特点
- 2.4 A/D转换器
- 2.5 射线检测的像质计与线对卡
- 2.5.1 像质计概述
- 2.5.2 常规像质计
- 2.5.3 双丝型像质计
- 2.5.4 线对卡
- 复习参考题
- 第3章 数字射线检测技术基本理论
- 3.1 数字图像概念
- 3.2 图像数字化基本理论
- 3.2.1 图像数字化过程
- 3.2.2 采样定理
- 3.2.3 量化方法
- 3.3 数字射线检测图像质量
- 3.3.1 图像对比度
- 3.3.2 图像空间分辨率
- 3.3.3 图像信噪比SNR
- 3.4 细节（缺陷）分辨能力
- 复习参考题
- 第4章 数字射线检测基本技术
- 4.1 概述
- 4.2 探测器系统选择
- 4.2.1 概述
- 4.2.2 探测器系统选择的基本依据
- 4.2.3 基本空间分辨率选择
- 4.2.4 规格化信噪比选择
- 4.3 数字射线检测透照技术控制
- 4.3.1 概述
- 4.3.2 最佳放大倍数
- 4.3.3 曝光曲线
- 4.3.4 动态检测方式技术控制
- 4.4 数字射线检测其他技术控制
- 4.4.1 图像数字化技术控制
- 4.4.2 图像显示与观察条件
- 4.4.3 数字图像处理技术
- 4.4.4 缺陷识别与质量级别评定
- 4.4.5 尺寸测量
- 4.4.6 厚度测定
- 4.5 数字射线检测图像质量控制
- 4.5.1 检测图像质量指标控制
- 4.5.2 图像质量的补偿原则
- 4.6 数字射线检测技术级别近似设计
- 4.6.1 概述
- 4.6.2 检测图像常规像质计指标设计
- 4.6.3 检测图像不清晰度（空间分辨率）指标设计
- 4.6.4 例题
- 4.7 数字射线检测技术稳定性控制
- 4.7.1 概述
- 4.7.2 检验工艺文件（检验程序文件）
- 4.7.3 检测系统性能的长期稳定性试验控制
- 4.7.4 检测工艺卡编制
- 复习参考题
- 第5章 工业常用数字射线检测系统
- 5.1 概述
- 5.2 分立辐射探测器（DDA）数字射线检测系统
- 5.2.1 检测系统组成
- 5.2.2 DDA检测系统的技术控制
- 5.2.3 DDA检测系统应用特点
- 5.3 IP板间接数字化射线检测系统———CR系统
- 5.3.1 检测系统组成与技术基本过程
- 5.3.2 CR系统的技术与应用特点
- 5.4 图像增强器间接数字化射线检测系统
- 5.4.1 图像增强器检测系统组成
- 5.4.2 图像增强器检测系统的技术与应用特点
- 5.5 微焦点数字化射线检测系统
- 5.6 底片图像数字化扫描技术
- 5.6.1 扫描仪概述
- 5.6.2 扫描仪的基本性能指标
- 5.6.3 扫描技术
- 5.6.4 扫描仪选用
- 复习参考题
- 第6章 等价性问题讨论
- 6.1 概述
- 6.2 等价指标问题分析
- 6.3 等价技术级别评定
- 6.3.1 概述
- 6.3.2 被检验工件基本分析
- 6.3.3 数字射线检测系统基本性能测定评定
- 6.3.4 数字射线检测系统检验试验
- 6.3.5 等价技术级别评定方法
- 6.3.6 例题
- 6.4 等价范围问题的理论处理方法
- 6.4.1 概述
- 6.4.2 两种射线检测技术系统概括
- 6.4.3 等价范围问题解答的基本理论
- 6.4.4 矩形函数近似线扩散函数的近似处理
- 复习参考题
- 第7章 数字射线检测技术标准介绍
- 7.1 国外数字射线检测技术标准编制概况
- 7.2 ASTME2597-2007标准关于DDA基本性能测定的规定
- 7.2.1 DDA基本空间分辨率测定规定
- 7.2.2 DDA规格化信噪比测定规定
- 7.3 ASTME2737-10标准关于DDA基本性能测定的规定
- 7.3.1 DDA系统性能测定试验的总要求
- 7.3.2 试件
- 7.3.3 双厚（度）板与单独像质计的测定试验规定
- 7.4 ASTME2446-2005标准关于IP板系统基本性能测定规定
- 7.4.1 IP板系统基本空间分辨率测定
- 7.4.2 IP板系统规格化信噪比测量
- 7.5 ASTME2445-10标准关于IP板系统基本性能测定的规定
- 7.5.1 试验要求
- 7.5.2 IP板系统基本空间分辨率测定试验
- 7.5.3 IP板系统规格化信噪比测定试验
- 7.6 ISO17636-2：2013标准简要介绍
- 7.6.1 ISO17636-2：2013标准概况
- 7.6.2 标准规定内容的基本结构
- 7.6.3 标准主要规定内容
- 7.6.4 对标准等价性说明的简单分析
- 复习参考题
- 第8章 数字射线检测技术实验
- 8.1 辐射探测器系统基本性能测定实验
- 实验1 DDA辐射探测器基本空间分辨率与MTF测定
- 实验2 DDA辐射探测器规格化（标准、归一）信噪比测定
- 8.2 辐射探测器系统性能对缺陷检验的影响
- 实验3 DDA辐射探测器像素尺寸对缺陷检验的影响
- 实验4 IP板扫描读出参数对缺陷检验的影响
- 8.3 数字射线检测技术的最佳（几何）放大倍数
- 实验5 放大倍数对检测图像空间分辨率的影响
- 8.4 ISO17636-2：2013标准规定的补偿规则实验
- 实验6 曝光量对检测图像质量的影响
- 附录
- 附录A 辐射探测器介绍
- A.1 辐射探测器的物理基? ?93
- A.2 气体探测器
- A.3 闪烁探测器
- A.4 半导体辐射探测器
- A.5 半导体探测器的辐射损伤
- 附录B 采样定理说明
- B.1 采样概念
- B.2 采样定理概念
- B.3 采样定理讨论方法
- B.4 采样定理确定方法
- 附录C 成像过程基本理论
- C.1 成像过程概念
- C.2 成像过程的空间域分析
- C.3 成像过程的空间频域分析
- C.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度
- C.5 卷积概念与傅里叶变换的概念
- 附录D 部分复习参考题答案
- 参考文献
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版权信息
出版社：机械工业出版社
出版时间：2015
作者：郑世才
温馨提示：
1.本电子书已获得正版授权，由出版社通过知传链发行。
2.该电子书为虚拟物品，付费之后概不接收任何理由退款。电子书内容仅支持在线阅读，不支持下载。
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