GD&T几何公差入门与提高

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编辑推荐

适读人群 :本书不仅适合制造企业,尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考,而且适合大学及专科院校的机械类专业学生学习。

本书由资深GD&T专家夏忠定先生撰写,基于ASME Y14.5,同时参照ISO 1101和GB/T 1182等几何公差标准,侧重于应用以及检测和检具的设计,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义,详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差等内容。

本书内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,读者可轻松掌握检具或夹具设计的关键知识,提高设计开发效率,降低企业开发、生产成本。

本书不仅适合制造企业,尤其是汽车行业的机械设计工程师、质量工程师、工艺工程师和测量工程师参考,而且适合大学及专科院校机械类专业的学生学习。

内容简介

本书共11章,系统地介绍了GD&T图纸的特点、基本术语和定义。本书详细阐述了GD&T的公差原则,24个公差修饰符号的使用,12个基本公差符号的定义、功能和检测,复合公差。本书采用国际新标准ASME Y14.5―2018作为依据,内容全面、文字简明、图表数据充实,采用了大量、详细的应用图例,力求增强可读性、易懂性和实用性。读者可以学习掌握传统坐标公差的缺点,12个几何公差的应用(尤其是位置度和轮廓度),独立组合位置度和复合位置度的区别,大/小实体要求(MMC/LMC)对产品图纸和成本的影响,实体要求应用在基准上对几何公差的影响,如何实现位置度和轮廓度的测量(包括CMM和功能检具),如何正确理解基准及怎样利用基准建立坐标系等。

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GD&T几何公差入门与提高是2019年由电子工业出版社出版,作者夏忠定。

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