适读人群:集成电路设计工程师,半导体行业从业者,微电子和集成电路专业师生本书提供PPT学习资料,大家关注“科技电眼”微信公众号,回复书后条码下方ISBN号即可获取。温老师又出新...
半导体材料是微电子、光电子和太阳能等工业的基石,而其电学性能、光学性能和机械性能将会影响半导体器件的性能和质量,因此,半导体材料性能和结构的测试和分析,是半导体材料研究和开发的重要方面。《半导体材料测试与分析》主要介绍半导体材料的各种测试分析技术,涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例等内容:包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。
《半导体材料测试与分析》可供大专院校的半导体物理、材料与器件、材料科学与工程和太阳能光伏等专业的高年级学生、研究生和教师作教学用书或参考书,也可供从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。
半导体材料测试与分析是2010年由科学出版社有限责任公司出版,作者杨德仁等。
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