本书共设计了11个项目28个任务，涵盖了集成电路制造工艺的硅片制造、晶圆制造、晶圆测试、集成电路封装与测试等集成电路制造的基本知识和基本操作，分别介绍硅提纯、单晶硅生长、薄膜制...
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内容简介
本书共有11个项目、36个任务、18个技能训练，涵盖了集成电路测试的数字集成电路、模拟集成电路以及集成电路综合应用电路等的基本测试知识和实际操作，分别介绍常见的74HC138、CD4511、74HC245、ULN2003、LM358、NE555、ADC0804、DAC0832和74HC151等芯片测试以及集成电路综合应用电路测试。
章节目录
- 58795BQ
- C-bwh
- D-qy
- E-ml
- 目录 CONTENTS
- 01
- 项目1
- 搭建集成电路测试平台
- 1.1 认识集成电路测试平台
- 1.1.1 LK8810S集成电路测试机
- 1．LK8810S组成与安装
- 2．LK8810S综合指标
- 3．LK8810S的特点
- 1.1.2 LK220T集成电路测试资源系统
- 1．为什么要使用LK220T
- 2．LK220T的组成
- 1.1.3 集成电路测试软件
- 1．安装Visual C++ 6.0
- 2．LK8810S测试软件
- 3．虚拟仪器应用软件
- 1.1.4 LK8810S常见故障与维护
- 1．智能锁设置
- 2．智能锁的常见故障与维护
- 3．设备的常见故障与维护
- 1.2 任务1 集成电路测试硬件环境搭建
- 1.2.1 任务描述
- 1.2.2 集成电路测试硬件环境实现分析
- 1．芯片测试板卡
- 2．测试区测试方式
- 3．练习区测试方式
- 1.2.3 搭建集成电路测试硬件环境
- 1．基于LK8810S的芯片测试硬件环境搭建
- 2．基于LK220T测试区的芯片测试硬件环境搭建
- 3．基于LK220T练习区的芯片测试硬件环境搭建
- 1.3 任务2 创建第一个集成电路测试程序
- 1.3.1 任务描述
- 1.3.2 集成电路测试实现分析
- 1．集成电路测试的目的
- 2．数字集成电路芯片常见参数测试
- 3．模拟集成电路芯片常见参数测试
- 4．创建集成电路测试程序的步骤
- 1.3.3 创建第一个集成电路测试程序
- 1．新建测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．载入测试程序
- 5．运行测试程序
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 02
- 项目2
- 74HC138芯片测试
- 2.1 任务3 74HC138测试电路设计与搭建
- 2.1.1 任务描述
- 2.1.2 认识74HC138
- 1．74HC138芯片引脚功能
- 2．74HC138真值表
- 3．74HC138工作原理
- 4．74HC138直流特性
- 2.1.3 74HC138测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．74HC138测试板卡
- 4．74HC138测试电路搭建
- 【技能训练2-1】基于练习区的74HC138测试电路搭建
- 2.2 任务4 74HC138的开短路测试
- 2.2.1 任务描述
- 2.2.2 开短路测试实现分析
- 1．开短路测试
- 2．开短路测试关键函数
- 3．开短路测试流程
- 2.2.3 开短路测试程序设计
- 1．新建74HC138测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．74HC138测试程序的载入与运行
- 2.3 任务5 74HC138的静态工作电流测试
- 2.3.1 任务描述
- 2.3.2 静态工作电流测试实现分析
- 1．静态工作电流测试实现方法
- 2．静态工作电流测试关键函数
- 3．静态工作电流测试流程
- 2.3.3 静态工作电流测试程序设计
- 1．编写静态工作电流测试函数ICC()
- 2．74HC138静态工作电流测试程序的编写及编译
- 3．74HC138测试程序的载入与运行
- 2.4 任务6 74HC138的直流参数测试
- 2.4.1 任务描述
- 2.4.2 直流参数测试实现分析
- 1．直流参数测试实现方法
- 2．直流参数测试关键函数
- 3．直流参数测试流程
- 2.4.3 直流参数测试程序设计
- 1．编写直流参数测试函数DC()
- 2．74HC138直流参数测试程序的编写及编译
- 3．74HC138测试程序的载入与运行
- 2.5 任务7 74HC138的功能测试
- 2.5.1 任务描述
- 2.5.2 功能测试实现分析
- 1．功能测试实现方法
- 2．功能测试关键函数
- 3．功能测试流程
- 2.5.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．74HC138功能测试程序的编写及编译
- 3．74HC138测试程序的载入与运行
- 【技能训练2-2】74HC138综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 03
- 项目3
- CD4511芯片测试
- 3.1 任务8 CD4511测试电路设计与搭建
- 3.1.1 任务描述
- 3.1.2 认识CD4511
- 1．CD4511芯片引脚功能
- 2．CD4511真值表
- 3.1.3 CD4511测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．CD4511测试板卡
- 4．CD4511测试电路搭建
- 【技能训练3-1】基于练习区的CD4511测试电路搭建
- 3.2 任务9 CD4511的开短路测试
- 3.2.1 任务描述
- 3.2.2 开短路测试实现分析
- 1．开短路测试实现方法
- 2．开短路测试关键函数
- 3．开短路测试流程
- 3.2.3 开短路测试程序设计
- 1．新建CD4511测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．CD4511测试程序的载入与运行
- 3.3 任务10 CD4511的功能测试
- 3.3.1 任务描述
- 3.3.2 功能测试实现分析
- 1．功能测试实现方法
- 2．功能测试关键函数
- 3．功能测试流程
- 3.3.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．CD4511功能测试程序的编写及编译
- 3．CD4511测试程序的载入与运行
- 【技能训练3-2】CD4511综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 04
- 项目4
- 74HC245芯片测试
- 4.1 任务11 74HC245测试电路设计与搭建
- 4.1.1 任务描述
- 4.1.2 认识74HC245
- 1．74HC245芯片引脚功能
- 2．74HC245真值表
- 3．74HC245直流特性
- 4.1.3 74HC245测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．74HC245测试板卡
- 4．74HC245测试电路搭建
- 【技能训练4-1】基于练习区的74HC245测试电路搭建
- 4.2 任务12 74HC245的开短路测试
- 4.2.1 任务描述
- 4.2.2 开短路测试实现分析
- 1．开短路测试实现方法
- 2．开短路测试流程
- 4.2.3 开短路测试程序设计
- 1．新建74HC245测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．74HC245测试程序的载入与运行
- 【技能训练4-2】74HC245工作电流测试
- 1．工作电流测试
- 2．工作电流测试程序设计
- 4.3 任务13 74HC245的直流参数测试
- 4.3.1 任务描述
- 4.3.2 直流参数测试实现分析
- 1．直流参数测试实现方法
- 2．_on_vp()函数
- 3．直流参数测试流程
- 4.3.3 直流参数测试程序设计
- 1．编写直流参数测试函数DC()
- 2．直流参数测试程序的编写及编译
- 3．直流参数测试程序的载入与运行
- 4.4 任务14 74HC245的功能测试
- 4.4.1 任务描述
- 4.4.2 功能测试实现分析
- 1．功能测试实现方法
- 2．功能测试流程
- 3．功能测试函数学习
- 4.4.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．74HC245功能测试程序的编写及编译
- 3．74HC245测试程序的载入与运行
- 【技能训练4-3】基于74HC245的LED点亮控制
- 【技能训练4-4】74HC245综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 05
- 项目5
- ULN2003芯片测试
- 5.1 任务15 ULN2003测试电路设计与搭建
- 5.1.1 任务描述
- 5.1.2 认识ULN2003
- 1．ULN2003芯片引脚功能
- 2．ULN2003工作原理
- 3．ULN2003应用
- 4．ULN2003直流特性
- 5.1.3 ULN2003测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．ULN2003测试板卡
- 4．ULN2003测试电路搭建
- 【技能训练5-1】基于练习区的ULN2003测试电路搭建
- 5.2 任务16 ULN2003的静态工作电流测试
- 5.2.1 任务描述
- 5.2.2 静态工作电流测试实现分析
- 1．静态工作电流测试实现方法
- 2．_pmu_test_vi()函数
- 3．静态工作电流测试流程
- 5.2.3 静态工作电流测试程序设计
- 1．新建ULN2003测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．ULN2003测试程序的载入与运行
- 5.3 任务17 ULN2003的直流参数测试
- 5.3.1 任务描述
- 5.3.2 直流参数测试实现分析
- 1．输入电流测试
- 2．饱和电压测试
- 3．钳位反向电流测试
- 4．钳位正向电压测试
- 5.3.3 直流参数测试程序设计
- 1．编写直流参数测试函数DC( )
- 2．ULN2003直流参数测试程序的编写及编译
- 3．ULN2003测试程序的载入与运行
- 【技能训练5-2】ULN2003综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 06
- 项目6
- LM358芯片测试
- 6.1 任务18 LM358测试电路设计与搭建
- 6.1.1 任务描述
- 6.1.2 认识LM358
- 1．LM358芯片引脚功能
- 2．LM358工作原理
- 3．LM358的特点
- 4．LM358同相比例放大电路
- 6.1.3 LM358测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．LM358测试板卡
- 4．LM358测试电路搭建
- 【技能训练6-1】基于练习区的LM358测试电路搭建
- 6.2 任务19 LM358的直流输入测试
- 6.2.1 任务描述
- 6.2.2 直流输入测试实现分析
- 1．直流输入测试实现方法
- 2．直流输入测试关键函数
- 3．直流输入测试流程
- 6.2.3 直流输入测试程序设计
- 1．新建LM358测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．LM358测试程序的载入与运行
- 6.3 任务20 LM358的交流输入测试
- 6.3.1 任务描述
- 6.3.2 交流输入测试实现分析
- 1．交流输入测试实现方法
- 2．交流输入测试关键函数
- 3．交流输入测试流程
- 6.3.3 交流输入测试程序设计
- 1．编写交流输入测试函数
- 2．LM358交流输入测试程序的编写及编译
- 3．LM358测试程序的载入与运行
- 【技能训练6-2】LM358综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 07
- 项目7
- NE555芯片测试
- 7.1 任务21 NE555测试电路设计与搭建
- 7.1.1 任务描述
- 7.1.2 认识NE555
- 1．NE555芯片引脚功能
- 2．NE555的优点
- 3．参数功能特性
- 4．NE555内部结构
- 5．NE555工作原理
- 6．NE555电气特性参数
- 7.1.3 NE555测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．NE555测试板卡
- 4．NE555测试电路搭建
- 【技能训练7-1】基于练习区的NE555测试电路搭建
- 7.2 任务22 NE555的直流参数测试
- 7.2.1 任务描述
- 7.2.2 直流参数测试实现分析
- 1．控制比较器阈值电压测试
- 2．放电管饱和电压测试
- 3．放电管关断漏电流测试
- 4．触发引脚电流测试
- 5．复位引脚电流测试
- 6．低电平输出电压测试
- 7．高电平输出电压测试
- 7.2.3 直流参数测试程序设计
- 1．新建NE555测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．NE555测试程序的载入与运行
- 7.3 任务23 NE555的功能测试
- 7.3.1 任务描述
- 7.3.2 功能测试实现分析
- 1．施密特触发器
- 2．多谐振荡器测试
- 3．NE555功能测试关键函数
- 7.3.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．NE555功能测试程序的编写及编译
- 3．NE555测试程序的载入与运行
- 【技能训练7-2】NE555综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 08
- 项目8
- ADC0804芯片测试
- 8.1 任务24 ADC0804测试电路设计与搭建
- 8.1.1 任务描述
- 8.1.2 认识ADC0804
- 1．ADC0804芯片引脚功能
- 2．ADC0804工作时序
- 3．ADC0804电气特性参数
- 8.1.3 ADC0804测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．ADC0804测试板卡
- 4．ADC0804测试电路搭建
- 【技能训练8-1】基于练习区的ADC0804测试电路搭建
- 8.2 任务25 ADC0804的工作电流测试
- 8.2.1 任务描述
- 8.2.2 工作电流测试实现分析
- 1．工作电流测试实现方法
- 2．工作电流测试流程
- 8.2.3 工作电流测试程序设计
- 1．新建ADC0804测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．ADC0804测试程序的载入与运行
- 8.3 任务26 ADC0804的直流参数测试
- 8.3.1 任务描述
- 8.3.2 直流参数测试实现分析
- 1．输入阻抗测试
- 2．输入电流测试
- 3．时钟引脚输出电压PMU测试
- 4．中断引脚输出电压PMU测试
- 5．漏电流测试
- 6．驱动能力测试
- 8.3.3 直流参数测试程序设计
- 1．编写直流参数测试函数DC()
- 2．ADC0804直流参数测试程序的编写及编译
- 3．ADC0804测试程序的载入与运行
- 8.4 任务27 ADC0804的功能测试
- 8.4.1 任务描述
- 8.4.2 功能测试实现分析
- 8.4.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．ADC0804功能测试程序的编写及编译
- 3．ADC0804测试程序的载入与运行
- 【技能训练8-2】ADC0804综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 09
- 项目9
- DAC0832芯片测试
- 9.1 任务28 DAC0832测试电路设计与搭建
- 9.1.1 任务描述
- 9.1.2 认识DAC0832
- 1．DAC0832芯片引脚功能
- 2．DAC0832芯片特性
- 3．DAC0832工作时序
- 4．DAC0832芯片的典型应用电路
- 9.1.3 DAC0832测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．测试电路设计
- 3．DAC0832测试板卡
- 4．DAC0832测试电路搭建
- 【技能训练9-1】基于练习区的DAC0832测试电路搭建
- 9.2 任务29 DAC0832的工作电流测试
- 9.2.1 任务描述
- 9.2.2 工作电流测试实现分析
- 1．工作电流测试方法
- 2．工作电流测试实现分析
- 3．工作电流测试流程
- 9.2.3 工作电流测试程序设计
- 1．新建DAC0832测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．DAC0832测试程序的载入与运行
- 9.3 任务30 DAC0832的直流参数测试
- 9.3.1 任务描述
- 9.3.2 直流参数测试实现分析
- 1．直流参数测试方法
- 2．输入高电平测试流程
- 3．输入低电平测试流程
- 9.3.3 直流参数测试程序设计
- 1．编写直流参数测试函数DC()
- 2．DAC0832直流参数测试程序的编写及编译
- 3．DAC0832测试程序的载入与运行
- 9.4 任务31 DAC0832的功能测试
- 9.4.1 任务描述
- 9.4.2 功能测试实现分析
- 1．DAC0832功能测试原理
- 2．DAC0832功能测试实现分析
- 3．设置VCC和VREF的电压
- 9.4.3 功能测试程序设计
- 1．编写功能测试函数Function()
- 2．DAC0832功能测试程序的编写及编译
- 3．DAC0832测试程序的载入与运行
- 【技能训练9-2】DAC0832综合测试程序设计
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 10
- 项目10
- 基于LK8820的74HC151芯片测试
- 10.1 认识基于LK8820的集成电路测试平台
- 10.1.1 LK8820集成电路测试机
- 1．LK8820集成电路测试机的组成
- 2．LK8820集成电路测试机的电源
- 3．LK8820集成电路测试机的特点
- 10.1.2 集成电路测试硬件环境搭建
- 1．LK8820的测试板
- 2．LK8820的测试转接板
- 3．LK8820的外挂测试接口
- 10.1.3 集成电路测试软件
- 1．测试软件安装准备
- 2．运行LK8820测试软件
- 3．创建测试程序
- 10.2 任务32 74HC151测试电路设计与搭建
- 10.2.1 任务描述
- 10.2.2 认识74HC151
- 1．74HC151芯片引脚功能
- 2．74HC151真值表
- 3．74HC151工作原理
- 4．74HC151直流特性
- 10.2.3 74HC151测试电路设计与搭建
- 1．测试接口
- 2．Mini DUT板测试电路焊接
- 3．搭建转接板测试电路
- 10.3 任务33 74HC151测试程序设计
- 10.3.1 任务描述
- 10.3.2 74HC151测试实现分析
- 1．直流参数测试
- 2．功能测试
- 3．74HC151直流参数测试流程
- 4．74HC151功能测试流程
- 10.3.3 74HC151测试程序设计
- 1．创建74HC151测试程序
- 2．配置工程属性
- 3．编写测试程序
- 4．修改def文件
- 5．74HC151测试程序编译
- 6．74HC151测试程序的载入与运行
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- 11
- 项目11
- 电压调挡显示测试
- 11.1 任务34 电压调挡显示测试电路设计与搭建
- 11.1.1 任务描述
- 11.1.2 电压调挡显示电路设计
- 1．电压采集、挡位选择与电压放大
- 2．A/D转换
- 3．数码显示
- 11.1.3 基于LK8810S的电压调挡显示电路搭建
- 1．测试接口
- 2．电压调挡显示测试板
- 3．电压调挡显示测试电路搭建
- 11.1.4 基于LK8820的电压调挡显示电路搭建
- 1．电压调挡显示测试电路设计
- 2．测试接口
- 3．电压调挡显示测试板
- 4．电压调挡显示测试电路搭建
- 11.2 任务35 基于LK8810S的电压调挡显示测试程序设计
- 11.2.1 任务描述
- 11.2.2 电压调挡显示测试实现分析
- 1．模数转换实现分析
- 2．数码管显示实现分析
- 3．电压调挡显示测试的实现步骤
- 11.2.3 电压调挡显示测试程序设计
- 1．新建电压调挡显示测试程序模板
- 2．打开测试程序模板
- 3．编写测试程序及编译
- 4．电压调挡显示测试程序的载入与运行
- 11.3 任务36 基于LK8820的电压调挡显示测试程序设计
- 11.3.1 任务描述
- 11.3.2 电压调挡显示测试实现分析
- 1．模数转换实现分析
- 2．读取模数转换的结果
- 3．采集电压数据的处理
- 11.3.3 电压调挡显示测试程序设计
- 1．创建电压调挡显示测试程序
- 2．编写测试程序
- 3．修改def文件
- 4．电压调挡显示测试程序的编译及运行
- 关键知识点梳理
- 问题与实操
- fl1
- 附录1
- LK8810S函数
- 1.1 接口板函数 _outsubport()
- 1.2 IV板函数
- 1．_set_logic_level()
- 2．_readdata()
- 3．_wait()
- 4．_reset()
- 5．_displed_pass()
- 6．_displed_fail()
- 7．_readyled_testing()
- 8．_handler()
- 9．_get_start()
- 10．_get_testing()
- 11．_instrument()
- 1.3 PM板函数
- 1．_on_vp()
- 2．_on_vpt()
- 3．_off_vp()
- 4．_on_ip()
- 5．_off_ip()
- 6．_get_ad()
- 7．_ad_conver()
- 8．_measure_i()
- 1.4 PE板函数
- 1．_on_fun_pin()
- 2．_off_fun_pin()
- 3．_sel_comp_pin()
- 4．_sel_drv_pin()
- 5．_set_drvpin()
- 6．_read_comppin()
- 7．_on_relay()
- 8．_off_relay()
- 9．_on_pmu_pin()
- 10．_off_pmu_pin()
- 11．_pmu_test_vi()
- 12．_pmu_test_iv()
- 1.5 WM板函数
- 1．_nwave_on()
- 2．_nwave_off()
- 3．_nset_wave()
- 4．_nac_distortion()
- 5．_set_dist_range1()
- 6．_dist_rms1()
- 7．_distortion1()
- 1.6 CS板函数
- 1．_turn_key()
- 2．_turn_switch()
- 3．_writ_cpu()
- 4．_read_cpu()
- 5．_set_p1()
- fl2
- 附录2
- LK8820函数
- 2.1 系统函数
- 1．USleep()
- 2．Sleep()
- 3．_reset()
- 4．MprintfExcel()
- 5．writeWaveEx()
- 2.2 VM板函数
- 1．_vm_init()
- 2．_set_logic_level()
- 3．_get_ad()
- 4．_measure_v()
- 5．_measure_i()
- 2.3 PV板函数
- 1．_pv_init()
- 2．_on_vpt()
- 3．_off_vpt()
- 4．_on_ip()
- 5．_off_ip()
- 2.4 PE板函数
- 1．void_pe_init()
- 2．_on_fun_pin()
- 3．_off_fun_pin()
- 4．_on_pmu_pin()
- 5．_off_pmu_pin()
- 6．_sel_drv_pin()
- 7．_set_drvpin()
- 8．_sel_comp_pin()
- 9．_read_comppin()
- 10．_rdcmppin()
- 11．_on_pmu()
- 12．_off_pmu()
- 13．_pmu_test_vi()
- 14．_pmu_test_iv()
- 15．_read_pin_voltage()
- 2.5 ST板函数
- 1．_st_init()
- 2．_turn_switch()
- 3．_turn_key()
- 4．_on_clko()
- 5．_off_clko()
- 6．_tmu_test()
- 2.6 WM板函数
- 1．_wm_init()
- 2．_set_wave()
- 3．_wave_on()
- 4．_wave_off()
- 5．_set_lmeasure()
- 6．_set_hmeasure ()
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集成电路测试项目教程（微课版）是2022年由人民邮电出版社出版,作者郭志勇 李征 主编。
版权说明：本电子书已获得正版授权，由出版社通过知传链发行。
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