适读人群:电子爱好者单片机技术初学者单片机相关专业师生《无线电》杂志作者杜洋出品国内单片机爱好者圈子里的有影响力人物一本有生命力的单片机学习图书畅销10年,累计销量突破3万册不...
本书的内容与1984年第1版的内容完全不同。本书介绍补充了这二十年来半导体科研、生产中常用的各种检测、分析方法和原理。全书共分7章,包括引论,半导体的高分辨X射线衍射,光学检测与分析,表面、薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例,同时附有大量参考文献和常用的数据,以便读者进一步参考和应用。
本书可供从事半导体科研和生产的科研人员,大专院校老师和研究生使用。
半导体的检测与分析(第2版)是2007年由科学出版社出版,作者。
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