本书共有11个项目、36个任务、18个技能训练,涵盖了集成电路测试的数字集成电路、模拟集成电路以及集成电路综合应用电路等的基本测试知识和实际操作,分别介绍常见的74HC138、CD4511、74HC245、ULN2003、LM358、NE555、ADC0804、DAC0832和74HC151等芯片测试以及集成电路综合应用电路测试。
本书较为全面地介绍集成电路封装与测试技术知识。全书共8 个项目,包括认识集成电路封装与测试、封装工艺流程、气密性封装与非气密性封装、典型封装技术、芯片测试工艺、搭建集成电路测试平台、74HC138 芯片测试和LM358 芯片测试。每个项目均设置了1+X 技能训练任务,帮助读者巩固所学的内容。
本书可以作为高职高专集成电路技术、电子信息工程技术等相关专业集成电路封装、测试相关课程的教材,也可以作为集成电路类培训班教材,并适合集成电路测试、芯片封装、芯片制造等专业人员和广大集成电路爱好者自学使用。
集成电路封装与测试(微课版)是2024年由人民邮电出版社出版,作者主编。
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