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编辑推荐

适读人群 ：集成电路IC设计工程师，微电子与集成电路相关专业师生

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内容简介

本书意在向从事半导体行业的朋友介绍半导体工艺闩锁效应和ESD保护技术，目的是为了能给业内人士提供简单易懂并且与实际应用相结合的书。本书通过介绍业界的闩锁效应的测试条件和标准，然后依据闩锁效应的测试结果进行物理分析，就是从结果推到原因，从而达到理论与实际相结合，让大家能快速理解发生闩锁效应的原因以及如何预防闩锁效应。之后以ESD的行业测试模型为出发点对ESD进行分析，再根据ESD测试模型来分析和设计ESD保护电路。让大家能快速了解ESD设计的原理以及要求。

CMOS集成电路闩锁效应是2020年由机械工业出版社出版,作者温德通。

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