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一本艺术品与文化遗产研究通用技术汇编，书中介绍了50种该领域常用的科学技术，以精炼的文字介绍了它们的基本原理、应用方法、局限性和发展历史。
内容简介
书中各章节体例统一，每一章都包含分类、说明、应用、局限性、补充方法、技术规范与注意事项、文献等8节内容，简要而全面地介绍了每一种技术方法。
本书可帮助艺术品和文物鉴定人员、保护修复人员和有鉴定需求的艺术史研究者快速了解各种技术，便捷地筛选出工作研究所需的检测方法，有效地解读各类检测分析报告，获取所需的信息与知识。
此外，专业的科学检测分析人员也可通过查阅本书，方便地了解文物鉴定行业对样品的检测需求，借鉴这些技术在鉴定领域的实际应用案例。是一本用户友好性较强的读物。
章节目录
版权信息
编委与撰稿人
序言
前言
昼光照相术
紫外（UV）照相术
红外（IR）照相术
红外反射成像（IRR）
红外假彩色照相术（IRFC）
红外透射照相术（IRT）
紫外诱导红外荧光成像
光纤反射光谱法（FORS）
X射线照相术
K-edge成像
同步辐射X射线荧光（sXRF）成像
光学相干层析术（OCT）
X射线吸收近边结构谱法（XANES）
扫描X射线粉末衍射（XRPD）
差式扫描量热法（DSC）
中子活化放射自显影（NAA）
中子射线照相术（NR）
中子成像（Nl）
拉曼（Raman）光谱法
傅里叶变换红外光谱法（FTIR）
同步辐射傅里叶变换红外光谱法z（SR-FTIR）
扫描电子显微镜（SEM）结合能量色散X射线光谱法（EDS/EDX）
实验室微X射线衍射（XRD）
表面增强拉曼光谱法（SERS）
宏观X射线荧光成像（MA-XRF）
便携式X射线荧光（pXRF）斑点分析
共聚焦X射线荧光法（cXRF）
质子X射线荧光分析（PIXE）
微取样
光学显微镜（OM）法
原子力显微镜（AFM）法
紫外／可见光（UV/VIS）断面显微镜法
断面染色试验显微分析
免疫试验法
X射线光电子能谱法（XPS）
二次离子质谱法（SIMS）
气相色谱-质谱法（GC-MS）
裂解气相色谱-质谱法（Py-GC/MS）
电喷雾电离质谱法（ESI-MS）
直接温度质谱法（DTMS）
热重质谱法（TGMS/TGA-MS）
激光烧蚀电感耦合等离子体质谱法（LA-ICP-MS）
基质辅助激光解吸电离质谱法（MALDI MS）
电化学分析法
铅同位素分析
太赫兹（THz）光谱法与成像
画布经纬密度法
放射性碳定年法
14C核弹峰值放射性碳定年法
树木年代学法
作者简介
译者后记
艺术品检测分析技术手册是2021年由清华大学出版社出版,作者[荷] 米尔科·登莱乌。
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